Title: Патентная аналитика как инструмент управления наукой, технологиями и инновациями
H1:
Description: Международный форум «Два дня патентной аналитики» посвящен институциональному применению патентной аналитики на международном, государственном и региональном уровнях, а также использованию патентной аналитики для отраслевых направлений: ТЭК и металлургия,